由雅时国际（ACT）商讯与《工业AI》杂志共同举办的“AI视觉助推智能制造”线上研讨会(https://live.polyv.cn/watch/2493970)将于8月26日14:00~16:00举办。本次研讨会将邀请阿丘（Aqrose）科技算法总监吴雨培先生以及英伟达（NVIDIA）公司香港人工智能技术中心高级数据科学家及副总监张家俊先生做主题演讲。

在提高生产柔性和自动化程度方面卓有成效的AI视觉是实现计算机集成制造的基础技术。本次研讨会将使工业AI行业工程师能更好地了解目前用于视觉的AI算法进展以及平台软件，探讨当下应用过程中“样本少，部署困难”“开发人员储备不够”“如何精准识别”等等问题。

阿丘（Aqrose）科技算法总监吴雨培先生的演讲主题为“如何解决工业缺陷检测小样本问题”。在演讲中，他将介绍：“针对某些行业比如汽车行业的多型号小批量生产场景（每种型号产品只生产几天），在完成缺陷样本收集前某种型号产品已经不再生产了，这种场景下大量的缺陷样本收集是不可能的。此外，由于缺陷是由生产过程中的非受控因素产生的，缺陷的形态是多种多样的，各种形态的样本很难收集完整，这也限制了深度学习在工业检测领域的应用。为了拓展深度学习在工业检测领域的应用范围及提升易用性，小样本检测算法的研究成为必然。"

英伟达（NVIDIA）公司张家俊先生的演讲题目为“没有AI专家，如何加速团队10倍AI项目开发时间？”，他将介绍NVIDIA迁移学习工具包（NVIDIA TRANSFER LEARNING TOOLKIT )能在没有AI专家的情况下加速团队10倍AI专案开发时间，快速训练高准确度模型以及领域特定AI模型。

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